【見逃し厳禁!】AI外観検査オンラインセミナー開催決定!
Phoxterは、3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」の発売を記念し、その魅力を深掘りする無料オンラインセミナーを開催します。2D検査の限界を感じている方、最新の3D検査技術に触れたい方は、ぜひこの機会をお見逃しなく!
セミナー概要
-
どんなイベント?
- 新発売の3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」と、その「高さ画像」を活用した最新のAI外観検査ソリューションを詳しく解説します。
-
いつ・どこで開催?
-
日時:2026年9月30日(水)
-
【第1回】12:00~12:30
-
【第2回】15:00~15:30
-
-
場所:オンライン開催(ご自宅やオフィスから気軽にご参加いただけます!)
-
-
参加費・入場方法
-
参加費:無料!
-
ご参加には事前の申し込みが必要です。
-
-
こんな方におすすめ!
-
2D検査での誤検出にお悩みの方
-
3D検査の導入をご検討中の方
-
製造現場の品質管理を高度化したい方
-
セミナーの見どころ
プログラムには、SV-LPシリーズのご紹介はもちろん、2D検査と3D検査(高さ画像)の違いとメリットを分かりやすく解説。さらに、「StellaController 2.0」との連携によるAI外観検査のデモンストレーションも行われます。「電池のなだらかな打痕」の検出がどう変わるのか、具体的な適用事例を通じて、その革新性をきっと実感できるでしょう!
申し込み方法
参加をご希望の方はこちらからお申し込みください。
「高さ」の画像化で検査を革新!「SV-LPシリーズ」とは?
Phoxterが2026年9月1日より販売を開始した「SV-LPシリーズ」は、従来の2D画像では捉えきれなかった「高さの情報」を高品質な画像に変換する3Dレーザープロファイル測定器です。

この「高さ画像」をPhoxterの画像処理コントローラー「StellaController 2.0」とダイレクトに連携させることで、色ムラや光沢に影響されず、ゆるやかな打痕や曲部にあるキズなども正確に検出できるようになります。これにより、汎用コントローラーベースの柔軟な環境で、シンプルかつ拡張性の高いAI外観検査システムを低コストで構築できます。
「SV-LPシリーズ」の3つの特長
- 超高速・高精細スキャン
最速67,000Hzのスキャン速度と、X軸最高3,200ポイントの超高解像度スキャン性能を搭載。高速ラインの微小な異常も逃さず画像化し、品質管理の精度を格段に向上させます。 - 「一体型構造」によるシンプルな機器構成
3Dセンサー自体に3Dデータ処理機能を内蔵しているため、別置きの中継機器が不要です。処理しやすい形の3次元データをStellaController 2.0へ直接送ることで、高いコストパフォーマンスを実現します。 - 高い耐環境性
IP67防護等級に対応しており、湿気や埃の多い過酷な製造環境でも安定して稼働します。
幅広い業界で活躍!応用事例をご紹介
「SV-LPシリーズ」は、ミクロン単位の寸法測定が求められる様々な業界で、全数インライン検査を実現します。例えば、HEV・EV移行に伴う自動車部品の精密化や、スマートフォンのシビアな品質管理など、多岐にわたるシーンでの応用が期待されています。

-
自動車・EV部品
-
モーターステータのピン溶接痕・高さ検査
-
EVバッテリーパックの外観寸法・膨張検査、溶接検査
-
電池の溶接部位スパッタ検査、溶接穴検査
-
ボタン電池の打痕検査、キズ検査
-
車載コネクタピンの平坦度・ピッチ測定
-
ドア・パネルなどの段差・隙間(チリ合わせ)検査
-

-
3C(電子機器・デバイス)・半導体
-
マザーボード実装部品の高精度な浮き検査
-
スマートフォン画面の浮き・隙間・接着検査
-
極小コネクタ端子やICチップピンのコプラナリティ(平坦度)検査
-
2D検査の課題を解決し、品質管理を次のレベルへ引き上げる「SV-LPシリーズ」。この機会に、ぜひオンラインセミナーでその可能性をご体験ください!



