未来の製造現場を支える！タカノが「高機能フィルム開発・製造展」で最新検査装置を披露

「もっと速く、もっと正確に」――製造現場の進化は止まりません。特に5Gや生成AIといった最先端技術の発展に伴い、電子部材向けフィルム市場はますます拡大しています。そんな中、生産ラインの高速化や回路の微細化に対応し、品質を確保するための検査技術は、もはや必要不可欠な存在です。

タカノ株式会社は、2026年9月30日（水）から幕張メッセで開催される「第17回高機能フィルム開発・製造展（FILMTECH JAPAN）」に、この課題を解決する最新の検査装置を携えて出展します。新発売の高速パターン付きフィルム外観検査装置をメインに、未来の製造現場を支える革新的なソリューションが多数紹介されます。

イベント概要と参加方法

未来の技術に触れる絶好のチャンス！参加を検討している方は、以下の情報をぜひチェックしてください。

どんなイベント？
- 高機能フィルムの開発・製造に関する最新技術や製品が集まる専門展示会です。タカノは特に、5G・生成AIで拡大する電子部材市場向けの高速パターン付きフィルム外観検査装置を中心に、検査工程の省人化や微細欠陥の見逃し防止に貢献するソリューションを提案します。
いつ・どこで開催？
- 開催日程: 2026年9月30日（水）～10月2日（金）
- 開催時間: 10:00～18:00（最終日のみ17:00終了）
- 開催場所: 幕張メッセ
- タカノ出展ブース番号: 1ホール 4-26
料金・入場方法
- 通常、公式HPからの入場申し込みは有料ですが、下記専用URLから事前登録すると、なんと入場料が無料になります！ ぜひこの機会をお見逃しなく。
- ▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
  - https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1745601528051089-4WV
対象者
- 電子部材向けフィルム、光学フィルム、エネルギー向けフィルムの製造に携わる方々、生産ラインの高速化や回路の微細化における検査工程の課題解決を目指す方々におすすめです。
公式HP
- https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/film.html

タカノブースの注目製品！

タカノのブースでは、自社開発のカメラ・画像処理ユニット・検査アルゴリズムを強みとする、画期的な検査装置が多数展示されます。特に注目したい製品はこちらです。

1. 高速パターン付きフィルム外観検査装置（新発売！）

業界最速級のRoll to Rollパターン印刷工程向け外観検査装置が新登場します。高速かつ高精細な検査を実現する自社製カメラと新開発の画像処理システムにより、ラインレート100klpsという驚異的な検査速度を実現したとされています。5Gや生成AIの普及で需要が高まるセラミックコンデンサや電子部材などの印刷工程におけるインライン検査に対応し、高レベルな傾向管理に貢献します。詳細情報はぜひ会場で確認してください。

2. 超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE

こちらも業界最速級の検査速度を誇る装置です。高速生産ラインでも微細な欠陥を検出するための高分解能設定が可能で、複数の処理を並列化することで多種多様な欠陥検出に対応します。

対応フィルム：光学フィルム、電子部材向けフィルム（MLCC、CCL/FCCL、DFR 他）、エネルギー向けフィルム（セパレータ、各種金属箔）、基材フィルム（TAC、PET、PI）
特徴：特徴量分類とAI自動欠陥分類により、高速検査中でもリアルタイムでの欠陥分類が可能です。
- ▽詳しくはこちら
  - https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/

その他の注目製品

無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ELITE

業界最高水準の高速高精細検査とカスタマイズ性を両立した外観検査装置です。Roll-to-Rollから枚葉機まで、多様なラインに柔軟に対応します。独自の画像処理技術で複数のアルゴリズムを並列処理し、黒点、ムラ、スジ、キズ、凹凸欠陥などを確実に検出します。

▽詳しくはこちら
- https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyeselite/

リアルタイム欠陥分類システム TAKANO AI

欠陥検出と同時にAIが分類を行うことで、高速検査中のリアルタイム分類を実現します。この技術は特許を取得しており、AIのブラックボックス化しやすい部分を特徴量分類で補完することで、品質管理にも有効です。分類条件の設定にかかる時間と手間を削減し、熟練度に関わらず操作できます。導入済み装置への後付けにも対応しています。

▽詳しくはこちら
- https://www.takano-kensa.com/kensa/column/ai-defect-classification-system/

半導体向け検査装置

半導体分野の検査ニーズにも対応する装置が紹介されます。

バンプ高さ検査装置 ALTAX：2D/3D同時検査に対応した全面高さ検査装置で、ガラス、ウェーハ、PKG基板など幅広く対応します。
ウェーハ外観検査装置 Viシリーズ：配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。
ウェーハ表面検査装置 WM+シリーズ：ナノレベルのパーティクル（異物）検出に対応します。
- ▽詳しくはこちら
  - https://www.takano-kensa.com/kensa/products/

タカノについて

タカノ株式会社は、1941年の創業以来、「製造業から『創造業』へ」を掲げ、ばね製造からオフィス家具、エクステリア、エレクトロニクス、さらには医療・福祉関連製品へと、常に新しい分野に挑戦し続けてきました。持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献するという経営基本理念のもと、未踏の領域への挑戦を続けています。

タカノ株式会社公式URL: https://www.takano-net.co.jp
タカノ検査装置ウェブサイト: https://www.takano-kensa.com/

会場でタカノの最新技術を体験しよう！

5Gや生成AIの時代を迎え、製造現場の課題はますます複雑化しています。タカノは、自社開発の強みを活かし、これらの課題に対する具体的な解決策を提案します。ぜひこの機会にタカノブースへお立ち寄りいただき、製品の詳細やサンプル評価について相談してみてはいかがでしょうか。未来の製造を支えるヒントが、きっとそこにはあります。